我公司能提供滿足以下標準要求的芯片級電磁兼容測試系統(tǒng)的全套解決方案，歡迎來電咨詢。
一、IEC61967系列標準為電磁發(fā)射測量標準，包括如下9項標準：
IEC61967-1:通用條件和定義
IEC61967-1-1:通用條件和定義-近場掃描數(shù)據(jù)交換格式
IEC61967-2:輻射發(fā)射測量-TEM小室和寬帶TEM小室法
IEC61967-3:輻射發(fā)射測量-表面掃描法
IEC61967-4:傳導發(fā)射測量-1Ω/150Ω直接耦合法
IEC61967-4-1:傳導發(fā)射測量-1Ω/150Ω直接耦合法和應用指南
IEC61967-5:傳導發(fā)射測量-法拉第籠法WFC
IEC61967-6:傳導發(fā)射測量-磁場探頭法
IEC61967-8:輻射發(fā)射測量-帶狀線法
IEC62132-1:通用條件和定義
IEC62132-2:輻射抗擾測量-TEM室和GTEM室法
IEC62132-3:大電流注入法BCI
IEC62132-4:射頻功率直接注入法
IEC62132-5:法拉第籠法WFC
IEC62132-8:輻射抗擾測量-帶狀線法
IEC62132-9:輻射抗擾測量-表面掃描法
三、IEC62215系列標準為脈沖抗擾度測量標準，包括如下2項標準：
IEC62215-2:同步瞬態(tài)注入法
IEC62215-3:非同步瞬態(tài)注入法