光譜儀性能標準的解釋可能具有挑戰(zhàn)性,不過常用的詞匯會有所幫助。在本技術提示中,我們將討論兩個重要但經(jīng)常被誤解的術語:動態(tài)范圍和信噪比。
光譜儀性能標準可能難以解釋,但常見詞匯可能有所幫助。在本文中,我們考慮了兩個重要但經(jīng)常被誤解的術語:動態(tài)范圍和信噪比。
光譜是一種復雜的技術,需要考慮許多變化和細微差別,通常以用戶不熟悉或者可以不同方式解釋的術語來表示。在這種背景下,我們提供了一些動態(tài)范圍和信噪比(SNR)的實際定義,這些標準通常被列為光譜儀性能的常見衡量標準。
在光譜學中,動態(tài)范圍是光纖光譜儀可以檢測的最大信號強度與最小信號強度之比。更具體地講,動態(tài)范圍是最大可檢測信號(即接近飽和)除以最小可檢測信號。最小可檢測信號定義為具有等于基線噪聲的平均值的信號。
對于我們的光譜儀,Ocean Insight 報告了一次采集的動態(tài)范圍,即最短的積分時間,提供盡量高的動態(tài)范圍。整個系統(tǒng)的動態(tài)范圍規(guī)格定義為最長積分時間最大信號與最小信號之比以及最大積分時間與最小積分時間之比的乘積。
實際上,用戶可以通過設置其參比測量的積分時間來利用我們光譜儀的全動態(tài)范圍,使光譜在滿計數(shù)量程的 80% 到 90% 處達到峰值。
信噪比(SNR)的定義是:信號強度除以特定信號強度時的噪聲強度,這意味著,不同測量值之間可能存在差異。由于系統(tǒng)噪聲通常隨著光子噪聲的信號而增加,因此信噪比函數(shù)是各個信噪比值與獲得它們信號的關系圖。Ocean Insight 報告的光譜儀信噪比值為最大可能的信噪比值(在探測器飽和時獲?。?。假設每個像素的信噪比響應曲線相同。
信噪比測量如下:選擇寬帶光源,以在最低積分時間或遠低于熱噪聲限值的積分時間(光譜也應具有低計數(shù)或幾乎為零計數(shù)的面積)時,光譜峰值幾乎達到飽和。要計算信噪比,請在無光情況下進行 100 次掃描并計算每個像素的平均基線計數(shù)值,然后用光進行 100 次掃描,然后計算每個像素輸出計數(shù)的平均值和標準偏差。然后通過以下公式給出信噪比:
信噪比(SNR)ρ =(S-D)/σ ρ
其中:
SNR = 信噪比
S = 樣品光譜平均強度(帶光)
D = 暗光譜的平均值(無光)
σ = 樣品標準偏差(有光)
ρ = 像素數(shù)
要獲取完整的信噪比與信號的關系圖,請將計算出的信噪比 ρ 值(噪聲)與 S ρ – D ρ(信號)繪圖。這將涵蓋廣泛的峰值計數(shù)范圍(從暗到幾乎飽和)。由于所有像素都有相同的響應曲線,所以信噪比與信號圖的數(shù)據(jù)可以來自所有不同的像素。由于光子噪聲是大信號值下噪聲貢獻最大的,理想圖形的形狀應接近 y = √x。
使用不同類型的信號平均可改善信噪比。對于基于時間的平均值,信噪比會增大所用光譜掃描次數(shù)的平方根。例如,如果平均掃描 100 次,則 300:1 的信噪比將變?yōu)?3000:1。信噪比會提高平均像素數(shù)的平方根。
雖然這些方法對于獲取精確的數(shù)據(jù)很有用,但會使用戶在比較不同型號光譜儀時變得困惑。例如,Ocean Insight 在不應用信號平均法的情況下報告其信噪比值。我們的許多競爭對手利用信號平均法來手動計算低光譜儀的信噪比值。
了解動態(tài)范圍和信噪比等術語只是熟悉光譜儀性能所有參數(shù)的一小部分,評估預期系統(tǒng)性能時,了解光譜儀規(guī)格通常只是一個起點。
以下是按探測器類型、動態(tài)范圍和信噪比(SNR)劃分的 Ocean Insight 光譜儀概覽。雖然這些標準可以提供特定光譜儀型號適合某種應用的一些見解,但選擇光譜儀還有很多其他因素。我們的應用工程師可提供指導。
聯(lián)系應用工程師
| 光譜儀 | 類型 | 探測器 | 動態(tài)范圍 | 信噪比 | 實例 應用 |
| 火焰 | 一般用途 | 線性 CCD 陣列(兩種選擇) | 1300:1 | 250:1(S 型)300:1(T 型) | 基本實驗室測量 |
| Ocean HDX | 高靈敏度 | 背薄式 CCD 圖像傳感器 | 12000:1 | 400:1 | 等離子體分析弱光應用高外顯率液體的吸光率 |
| QEPro | 高靈敏度 | 背薄型 TE 冷卻 CCD 陣列 | 85000:1 | 1000:1 | 微光應用包括:熒光 DNA 分析拉曼光譜 |
| Maya2000 專業(yè)版 | 高靈敏度 | 背薄式 CCD 圖像傳感器 | 15000:1 | 450:1 | 低照度熒光和拉曼分析溶液、固體和氣體 |
| STS | 微光譜儀 | CMOS | 4600:1 | 1500:1 | 低濃度吸光度高強度激光分析集成到其他設備中 |
| NIRQuest+ | 近紅外(900-2500 納米) | InGaAs 線性陣列(多種選擇) | 15000:1(900-1700 納米版本) | 13000:1 (900-1700 納米版本) | 水分檢測碳氫化合物分析聚合物鑒定 |
| 火焰-近紅外+ | 近紅外(900-1700 納米) | 非制冷 InGaAs 線性陣列 | 6000:1 | 6000:1 | 食品成分分析塑料回收制藥質量控制 |
| 海洋特效 | 高速 | CMOS | 5000:1 | 290:1 | 照明中的閃爍高速加工應用 |
| 人力資源 | 高分辨率 | 線性 CCD 陣列 | 2000:1 | 250:1 | 激光表征發(fā)射線分析 |